產品系統NEWS CENTER
首頁-產品系統-高關聯掃描電子顯微鏡-
產品中心
高關聯掃描電子顯微鏡
相關文章
AFM-in-SEM LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),“即插即用“,專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設計。$n新穎的探針和電子顯微鏡關聯(CPEM) 技術可實現納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數據關聯。
更新日期:2023-08-11
型號:
訪問量:2022
關注我們微信賬號
掃一掃手機瀏覽
Copyright©2024 奧達科學有限公司 版權所有 備案號: sitemap.xml 技術支持:化工儀器網 管理登陸
TEL:13813388142