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首頁-產品系統-高關聯掃描電子顯微鏡-SEM-AFM-AFM-in-SEM
詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,生物產業,地礦,能源,航天 |
LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM)，"即插即用"，專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設計。
新穎的探針和電子顯微鏡關聯(CPEM) 技術可實現納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數據關聯。
• 快速、即插即用地集成到 SEM 中
• 兼容FIB、GIS、EDX等標準 SEM 附件
• 高度可定制
• 也可用作獨立的原子力顯微鏡
關鍵技術優勢
1、復合且相關的樣品分析
關鍵的 CPEM 技術可以同時采集 AFM 和 SEM 通道并將它們無縫關聯到 3D圖像中。
2、原位樣品表征
SEM 內部的原位條件可確保在相同時間、相同地點和相同條件下進行樣品分析。
3、精確定位感興趣區域
極其精確和省時的方法使用 SEM 將 AFM 針尖導航到感興趣的區域，從而實現快速和輕松的定位。
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